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纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
国家标准《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
主要起草单位苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司。
主要起草人郭清华 、朱建荣 、姚建林 、袁亚仙 、方丹 、姜江 、席广成 、卢荻 、王震 。
基础信息
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标准号：GB/T 44075-2024
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发布日期：2024-05-28
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实施日期：2024-12-01
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部分代替标准：暂无
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全部代替标准：暂无
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标准类别：方法
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中国标准分类号：A42
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国际标准分类号：17计量学和测量、物理现象17.040长度和角度测量17.040.20表面特征
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归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会
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执行单位：暂无
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主管部门：全国纳米技术标准化技术委员会
采标情况
起草单位
苏州纳微科技有限公司
苏州大学
中国检验检疫科学研究院
苏州市计量测试院
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
起草人
郭清华
朱建荣
方丹
姜江
王震
姚建林
袁亚仙
席广成
卢荻
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