碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
基础信息
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标准号:YS/T 1600-2023
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发布日期:2023-04-21
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实施日期:2023-11-01
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制修订:制定
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代替标准:暂无...
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中国标准分类号:H17
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国际标准分类号:77.040.30
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技术归口:暂无...
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批准发布部门:工业和信息化部
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标准类别:方法标准
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行业分类:制造业
备案信息
备案号:93568-2024
备案日期:2024-03-14
备案月报:2024年第3号(总第287号)
适用范围
本文件适用于碳化硅单晶中杂质元素含量的测定。
起草单位
起草人
上一篇:YS/T 38.3-2023
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